M-3便携式四探针电阻率方块电阻测试仪

一、结构特征

二、概述

        m-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 a.s.t.m 标准。

       仪器成套组成：由m-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。

仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

        探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ito膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入

        仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

三、基本技术参数

1.测量范围、分辨率

电   阻：     0.010～ 50.00kω,   分辨率0.001～ 10 ω

电 阻 率：     0.010～ 20.00kω-cm，分辨率0.001～ 10 ω-cm

方块电阻：     0.050～ 100.00kω/□ 分辨率0.001～ 10 ω/□

2.可测材料尺寸

手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：

直   径：szt-a圆测试台直接测试方式 φ15～130mm。

szt-c方测试台直接测试方式180mm×180mm。

长(高)度：测试台直接测试方式 h≤100mm。.

测量方位: 轴向、径向均可.

3.量程划分及误差等级

4)适配器工作电源：220v±10％, f=50hz±4％,pw≤5w，或电池供电

5)外形尺寸：w×h×l=10cm×3.6cm×21cm

净   重：≤0.3kg

四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站http://www.jgdz.com.cn或

阿里巴巴诚信通网址http://dhl7002.cn.alibaba.com

查看《m-3手持式四探针测试仪技术使用说明书》

五、联系方式：/0512-80973697/ 丁先生

本产品的建议零售价是¥3500.00，加工定制是是，类型是便携式参数测量仪，品牌是JG/晶格，型号是M-3型便携式，测量范围是0.010Ω-cm/□～20000Ω-cm/□（MΩ），电　源是可充电锂电池，测试电压是3.5（V），精度是0.5～1%，重复误差是0.5%，环境温度是0到35度，相对湿度是《=75，校准周期是1年，重量是0.3（kg），尺　寸是W*H*L=10cm*3.6cm*21cm，功率是0.005